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    • 专利摘要:
    一種檢測裝置，其用於檢測存儲卡上之一大電容為存儲卡提供工作電源之供電時間，且在這段時間內存儲卡存儲之數據量。存儲卡包括一記憶體。檢測裝置包括一控制器、一供電單元、一檢測單元及一電腦。控制器連接至供電單元。供電單元連接至大電容。檢測單元包括一充電完成通知模組、一數據傳達通知模組及一計時模組。當大電容充電完成時，充電完成通知模組發送充電完成通知訊號至計時模組，電腦發送一容量之數據包至所述記憶體，同時，數據傳送通知模組發送數據傳送通知訊號至計時模組時，計時模組開始計時。
    公开号:TW201305573A
    申请号:TW100127310
    申请日:2011-08-02
    公开日:2013-02-01
    发明作者:Peng Chen；Qi-Yan Luo；song-lin Tong
    申请人:Hon Hai Prec Ind Co Ltd；
    IPC主号:G06F1-00
    专利说明:
    檢測裝置
    本發明涉及一種檢測裝置。
    在SSD卡設計時，為了防止數據在存儲過程中，電腦突然斷電，而導致數據丟失，會在SSD卡上加上一大電容（Super Capacitance）。當電腦突然斷電時，由大電容給SSD卡供電，保障數據完全存儲。然而，為了更好之設計SSD卡，必須知道所述大電容能供複數久之電,且在這段時間內能存儲複數大數據。
    有鑒於此，有必要提供一種可檢測存儲卡上之大電容為存儲卡提供工作電源之供電時間，且在這段時間內存儲卡存儲之數據量之檢測裝置。
    一種檢測裝置，其用於檢測存儲卡上之一大電容為存儲卡提供工作電源之供電時間，且在這段時間內存儲卡存儲之數據量。存儲卡包括一記憶體。檢測裝置包括一控制器、一供電單元、一檢測單元及一電腦。控制器連接至供電單元。供電單元連接至大電容。控制器用於控制所述供電單元為大電容充電。電腦內包括複數個不同數據容量之數據包。檢測單元包括一充電完成通知模組、一數據傳達通知模組及一計時模組。當大電容充電完成時，充電完成通知模組發送充電完成通知訊號至計時模組，電腦發送一容量之數據包至所述記憶體，同時，數據傳送通知模組發送數據傳送通知訊號至計時模組時，計時模組開始計時。
    與現有技術相比，所述檢測裝置可藉由檢測單元檢測出存儲卡上之大電容為存儲卡提供工作電源時，能存儲複數大容量之數據及提供工作電源之供電時間。
    以下將結合附圖對本發明作進一步之詳細說明。
    請參閱圖1，本發明實施方式提供之檢測裝置100，其用於檢測檢測一存儲卡200上之一大電容201為存儲卡200提供工作電源之供電時間，且在這段時間內存儲卡200存儲之數據量。本實施方式中，所述存儲卡200為SSD（Solid-state drive）卡，其還包括一記憶體202。所述檢測裝置100包括一控制器10、一供電單元20、一檢測單元30及一電腦40。
    本實施方式中，所述控制器10包括一輸入引腳11及一控制引腳12。
    所述供電單元20包括一開關管Q1、一繼電器21及一電源Vcc。本實施方式中，所述繼電器21包括一第一控制端211、一第一輸入端212及一第一輸出端213。所述開關管Q1為NPN型三極管。所述開關管Q1之基極B電性連接至所述控制器10之輸入引腳11；所述開關管Q1之發射極E接地。所述開關管Q1之集電極C連接至所述第一控制端211。所述繼電器21之第一輸入端212藉由一電阻R1電性連接至所述電源Vcc。所述繼電器21之第一輸出端213電性連接至所述存儲卡200之大電容201。
    所述檢測單元30包括一充電完成通知模組31、一數據傳達通知模組32及一計時模組33。所述充電完成通知模組31之輸入端連接至所述繼電器21之第一輸出端213，所述充電完成通知模組31之輸出端連接至所述計時模組33。所述數據傳送通知模組32之兩輸入端分別連接至所述記憶體202及控制器10之輸入引腳11。當所述大電容201充電完成時，所述繼電器21之第一輸出端213無電量輸出，此時，所述充電完成通知模組31獲知所述大電容201充電完成，且發送充電完成通知訊號至所述計時模組33，同時，所述數據傳送通知模組32發送數據傳送通知訊號至所述計時模組33時，所述計時模組33開始計時。本實施方式中，所述計時模組33為計時器。
    所述電腦40內存儲有複數個不同數據容量之數據包41，如50兆、51兆、…100兆。所述存儲卡200連接至所述電腦40。
    測試時，首先，所述控制器10之控制引腳12輸出一高電平，所述繼電器21工作，所述電源Vcc藉由所述第一輸出端213為所述大電容201充電，當所述大電容201充電完成時，所述繼電器21之第一輸出端213無電量輸出，此時，所述充電完成通知模組31獲知所述大電容201充電完成，且發送充電完成通知訊號至所述計時模組33。然後，所述電腦40發送一50兆之數據包41至所述存儲卡200之記憶體202，此時，所述數據傳送通知模組32發送一數據傳送通知訊號至所述控制器10之輸入引腳11，所述控制器10之控制引腳12輸出一低電平，所述繼電器21斷開，所述大電容201開始放電，為所述存儲卡200提供工作電源，同時，所述計時模組33開始計時。若所述大電容201之放電時間能使所述記憶體202完全存儲50兆之數據包41時，所述電腦40顯示存儲成功，所述計時模組33記下用時，如5秒。此種情況，證明，所述大電容201之放電時間大於所述記憶體202完全存儲50兆之數據包41之存儲時間，所述計時模組33記錄下，所述記憶體202完全存儲50兆之數據包41所花費之時間。
    隨後，所述計時模組33清零。接著，所述控制器10之控制引腳12再輸出一高電平，所述繼電器21工作，所述電源Vcc藉由所述第一輸出端213為所述大電容201充電，當所述大電容201充電完成時，所述充電完成通知模組31發送一充電完成訊號至所述電腦40，以使所述電腦40顯示“充電完成”提示。接著，所述電腦40發送一51兆之數據包41至所述存儲卡200之記憶體202，此時，所述數據傳送通知模組32發送一數據傳送通知訊號至所述控制器10之輸入引腳11，所述控制器10之控制引腳12輸出一低電平，所述繼電器21斷開，所述大電容201又開始放電，為所述存儲卡200工作提供工作電源，同時，所述計時模組33開始計時。若所述大電容201之放電電能能為所述記憶體202存儲51兆之數據包41時，所述電腦40顯示存儲成功，所述計時模組33記下用時，如6秒。
    假設所述大電容201之放電電能能為所述記憶體202存儲99兆之數據包41時，所述電腦40顯示存儲成功，所述計時模組33記下用時，如10秒。而當所述大電容201之放電電能能為所述記憶體202存儲100兆之數據包41時，所述電腦40顯示數據存儲失敗。此時證明，所述大電容201之放電電能能為所述記憶體202存儲99兆之數據包41，用時為10秒。
    所述檢測裝置100可藉由檢測單元30能檢測出存儲卡200上之大電容201為存儲卡200提供工作電源時，能存儲複數大容量之數據及提供工作電源之供電時間。
    另外，本領域技術人員還可在本發明精神內做其他變化，當然，這些依據本發明精神所做之變化，都應包括在本發明所要求保護之範圍之內。
    100．．．檢測裝置
    200．．．存儲卡
    201．．．大電容
    202．．．記憶體
    10．．．控制器
    20．．．供電單元
    30．．．檢測單元
    40．．．電腦
    11．．．輸入引腳
    12．．．控制引腳
    Q1．．．開關管
    Vcc．．．電源
    21．．．繼電器
    211．．．第一控制端
    212．．．第一輸入端
    213．．．第一輸出端
    B．．．基極
    E．．．發射極
    C．．．集電極
    R1．．．電阻
    31．．．充電完成通知模組
    32．．．數據傳達通知模組
    33．．．計時模組
    圖1是本發明實施方式提供之檢測裝置之示意圖。
    100．．．檢測裝置
    200．．．存儲卡
    201．．．大電容
    202．．．記憶體
    10．．．控制器
    20．．．供電單元
    30．．．檢測單元
    40．．．電腦
    11．．．輸入引腳
    12．．．控制引腳
    Q1．．．開關管
    Vcc．．．電源
    21．．．繼電器
    211．．．第一控制端
    212．．．第一輸入端
    213．．．第一輸出端
    B．．．基極
    E．．．發射極
    C．．．集電極
    R1．．．電阻
    31．．．充電完成通知模組
    32．．．數據傳達通知模組
    33．．．計時模組
    权利要求:
    Claims (5)
    [1] 一種檢測裝置，其用於檢測存儲卡上之一大電容為存儲卡提供工作電源之供電時間，且在這段時間內存儲卡存儲之數據量，所述存儲卡包括一記憶體，其改進在於：所述檢測裝置包括一控制器、一供電單元、一檢測單元及一電腦，所述控制器連接至所述供電單元，所述供電單元連接至所述大電容，所述控制器用於控制所述供電單元為所述大電容充電，所述電腦內包括複數個不同數據容量之數據包，所述檢測單元包括一充電完成通知模組、一數據傳達通知模組及一計時模組，當所述大電容充電完成時，所述充電完成通知模組發送充電完成通知訊號至所述計時模組，所述電腦發送一容量之數據包至所述記憶體，同時，所述數據傳送通知模組發送數據傳送通知訊號至所述計時模組時，所述計時模組開始計時。
    [2] 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中：所述控制器包括一輸入引腳及一控制引腳，所述供電單元包括一開關管、一繼電器及一電源，所述繼電器包括一第一控制端、一第一輸入端及一第一輸出端，所述開關管為NPN型三極管，所述開關管之基極電性連接至所述控制器之輸入引腳；所述開關管之發射極接地，所述開關管之集電極連接至所述第一控制端，所述繼電器之第一輸入端電性連接至所述電源，所述繼電器之第一輸出端電性連接至所述存儲卡之大電容。
    [3] 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中：所述繼電器之第一輸入端藉由一電阻電性連接至所述電源。
    [4] 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中：當所述控制器之控制引腳輸出一高電平時，所述繼電器工作，所述電源藉由所述第一輸出端為所述大電容充電。
    [5] 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中：所述大電容充電完成時，所述繼電器之第一輸出端無電量輸出，此時，所述充電完成通知模組獲知所述大電容充電完成，且發送充電完成通知訊號至所述計時模組。
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